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针对连接器、手机、PDA、LCD铁框、胶框......等而言，侧边尺寸的量测均属于非接触式影像量测之缺点，如:

• 连接器、手机、PDA : 在量测时均须依靠底面做为基准面，所以使用立式量测仪器，须将工件站立依靠平行块量测，否则需使用卧式量测仪器且须事先校正垂直面
• LCD铁框、胶框 : 在光电业中有许多侧边尺寸之量测，但因为非接触式影像量测有Z轴高度限制(Z轴高度均为100~300mm)，所以使用接触式量测(3D探针)，但因探针接触式量测速度慢而不敷成本，渐而怀疑自己是否购买错仪器

我司开发一系列专用于侧边量测之光学反射器，可撘配用于立体显微镜、光学投影机、2.5D影像量测、非接触式三次元上使用